Medida precisa de parametros da rede cristalina por difração multipla de raios-X

AUTOR(ES)
DATA DE PUBLICAÇÃO

1979

RESUMO

A sensibilidade S da medida de parâmetros de rede por meio da Difração múltipla ( D.M. ) de raios-X ( S. Caticha Ellis, Japan J. Appl. Phys. (1975), 14, 603-611 ) é dada por: S = 1/( gtanf cos2q1 ), onde g = /a, q1 o ângulo de Bragg para a reflexão primária, e f o ângulo formado pelo vetor reciproco H da reflexão secundária; com o plano de incidência quando H está em posição de reflexão: Pares de Reflexões múltiplas com S alto foram escolhidos e o valor do parâmetro a calculado a partir da diferença angular azimutal entre cada par. Para mono-cristais de Germânio, CuKa1 e reflexão primária ( 222 ), foram escolhidos os seguintes pares de picos : (135 ) ( 315 ), ( 5 13 ) ( 5 31 ), ( 11 7 ) ( 1 17 ) e ( 711 ) ( 71 1 ) todos eles verificam; 1 ) o ângulo f é o mais pequeno dando então o maior valor de S. 2 ) A separação angular da posição dos picos para cada um destes pares é de aproximadamente 0,22°, que pode ser medida diretamente. 3 ) Os quatro pares envolvem só reflexões fracas. Assim. sendo, deslocamentos dos picos devido a interações dinâmicas não são levadas em conta. O experimento foi realizado usando um gerador microfoco ajustado para se ter um foco pontual de raios-X de 50 x 50 mm, monocromatizados por um cristal curvo de quartzo ( 101 1 ). A separação angular de cada par de reflexões foi medida girando o cristal com uma velocidade de 0,003 °/min com um erro de aproximadamente 10-5 °/min. São apresentados resultados para um cristal perfeito e para um imperfeito.

ASSUNTO(S)

cristais - propriedades fisicas raios x - difração

ACESSO AO ARTIGO

Documentos Relacionados