Mirroring Diffuse X Ray
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1. Estudo de monocristais de silicio czochralski pelos metodos: pseudo kossel e espalhamento difuso de raios x / Study of monocrystals silicon Czochralski by the methods: pseudo Kossel and diffuse scattering of x-rays
A determinação do estado de deformação de monocristais planos através da técnica pseudo-Kossel, combinada com o estudo do espalhamento difuso de raios X próximo a uma reflexão de Bragg, permite uma caracterização dos defeitos quanto a sua natureza, tamanho e simetria se houver poucas variedades de defeitos diferentes ou quando ocorrer a predominân
IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia. Publicado em: 22/12/1988