Difracao Bragg Superficie
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1. Difração Bragg-Superfície no estudo de sistemas epitaxiais baseados em pontos quânticos de InAs/GaAs / Bragg-surface diffraction on the study of epitaxial systems based on InAs/GaAs quantum dots
Nanodispositivos são objetos fabricados pelo homem com estruturas internas as quais têm ao menos uma dimensão física em escala nanométrica. A baixa dimensionalidade implica em níveis de energia quantizados, conferindo notáveis diferenças às propriedades ptoelétricas desses dispositivos, o que os torna bastante atrativos para a indústria de micro e
IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia. Publicado em: 17/03/2011
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2. Difração Bragg-Superficie (BSD) : uma sonda de alta resolução para o estudo da implantação de ions em supercondutores / Bragg-Surface diffraction (BSD) : high resolution microprobe to study ion implanted semiconductors
Neste trabalho, a difração Bragg-Superfície (BSD), um caso especial da difração múltipla de raios-X, foi usada como uma microssonda de superfície com resolução para a detecção de defeitos originados próximos da interface cristal-amorfo (c-a) em junções rasas de B em Si, e uma nova técnica de caracterização de semicondutores (GaAs) submetidos
Publicado em: 2006
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3. Estudo de piezeletricidade e transições de fase nos cristais de KDP e sal de Rochelle com difração multipla de raios-X
Neste trabalho, a difração múltipla de raios-X (DM) é usada para investigar distorções na rede cristalina induzidas por um campo elétrico externo (E) permitindo a determinação de todos os coeficientes piezelétricos do sal de Rochelle e também mostrando que a técnica é factível na detecção da transição de fase do di-hidrogenofosfato de potá
Publicado em: 2002
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4. Observação direta e estudo da difração bragg paralela a superficie de monocristais
In this work a new scattering geometry is developed to allow for direct observation of the X-ray beam, diffracted parallel to the crystal surface. It is a modification of the usual Renninger geometry, for systematic multiple diffraction occurrence. While in Renninger geometry the primary incidence plane lies on the diffractometer plane in the proposed geomet
Publicado em: 1991
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5. Determinação das fases na difração dos raios-X usando difração multipla de mais de tres-feixes
O problema da fase dos feixes de raios-X difratados é um dos maiores problemas da Cristalografia de Raios-X desde a descoberta de Laue e a resolução das primeiras estrutura por Bragg. Neste trabalho é desenvolvido um método teórico, baseado na teoria dinâmica de difração dos raios-X, para análise da intensidade de difração múltipla com o objetiv
Publicado em: 1988
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6. Determinação direta das fases na difração de raios-X em cristais sem centro de simetria
Um método experimental é proposto para solucionar o problema da fase na difração de raios-X em cristais sem centro de simetria, usando difração múltipla caso três-feixes tipo-Bragg. Este método resulta da consideração da dependência da fase com a assimetria dos perfis de linha, com o sentido da rotação da rede cristalina e com o comprimento de
Publicado em: 1984