Teste parametricos de circuitos integrados, uma abordagem sistemica baseada na dinamica não linear

AUTOR(ES)

Carlos Roberto Negrão Teani

DATA DE PUBLICAÇÃO

1998

RESUMO

Considering the fact that parametric test in integrated circuits manufacturing line is expensive and time consuming, a systemic go/no-go test type has been developed for time reduction. Using the dynamic nonlinear behavior of the electronic devices, the space states is studied through maps to identify parametric deviations of the device under test. The results show the feasibility of the method without reduction of the testability

ASSUNTO(S)

medidas eletricas teorias não-lineares circuitos integrados

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