Tecnicas de microscopia de tunelamento de eletrons (MTE) e microscopia de força atomica (MFA) aplicadas ao estudo desuperficies de grafite e diamante
AUTOR(ES)
Marcelo Fukui
DATA DE PUBLICAÇÃO
1992
RESUMO
Not informed
ASSUNTO(S)
microscopio e microscopia microscopia eletronica
ACESSO AO ARTIGO
http://libdigi.unicamp.br/document/?code=vtls000079101Documentos Relacionados
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