Refinamento de estruturas cristalinas por difração de raios-x pelo método de mínimos quadrados utilizando dados de amostras policristalinas. / Refinement of crystal structures by x-ray diffraction using the method of least squares and data from polycrystalline samples.

AUTOR(ES)
DATA DE PUBLICAÇÃO

1983

RESUMO

A estrutura da florencita foi refinada pelo método de mínimos quadrados, utilizando dados experimentais obtidos através do método de Debye-Scherrer. A coleta dos dados das intensidades integradas foi feita através da leitura do difratograma de pó por um microdensitômetro óptico automático, e empregando métodos de análise numérica para fazer a integração da função (2θ,Y), tabelada a pontos eqüidistantes. Foram observados 14 picos de difração e as reflexões que se superpunham contribuindo para as intensidades dos picos foram identificadas e suas contribuições levadas em conta através de seus fatores de multiplicidade. O refinamento foi feito com o programa POWLS (Powder Least Squares) e inicialmente foram fornecidos os parâmetros posicionais dos átomos da Goyazita, que é isomorfa com a florencita. As intensidades observadas foram corrigidas pelos fatores de Lorentz-polarização e adsorção. O índice de discordância R atingido para os 14 picos de difração observados foi de 0.097. A fórmula molecular da florencita é CeAl3(PO4)2(OH)6. O composto cristaliza no sistema hexagonal com parâmetros de rede ao=6.96Å co=16.33Å α= β = 90° γ=120° V=685.07޵. O grupo espacial é R3m com Z=3 e densidade calculada igual a 3.67g.cm-3.

ASSUNTO(S)

amostras policristalinas difração de raios-x x-ray diffraction polycrystalline samples

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