Microscopia de varredura por sonda (SPM) aplicada a aços inoxidáveis dúplex

AUTOR(ES)

Santos, Fabricio Simão dos, Gheno, Simoni Maria, Kuri, Sebastião Elias

FONTE

Rem: Revista Escola de Minas

DATA DE PUBLICAÇÃO

2007-03

RESUMO

Nesse trabalho, a microscopia de varredura por sonda (Scanning Probe Microscopy - SPM), nos modos contato (Atomic Force Microscopy - AFM) e de força magnética (Magnetic Force Microscopy - MFM), foi utilizada para analisar a microestrutura de um aço inoxidável dúplex 2205 solubilizado e envelhecido. Foi feita uma análise por AFM da superfície do aço solubilizado após crescimento de filme passivo. Por AFM, obteve-se indicação de crescimento de filme sobre a microestrutura do aço solubilizado, enquanto por MFM a distribuição de fases pôde ser observada sem a necessidade de ataque da superfície.

ASSUNTO(S)

aço inoxidável dúplex crescimento de filme spm microestrutura

Documentos Relacionados

• Microscopia de varredura por sonda aplicada a materiais biologicos
• Propriedades eletromecânicas de nanoestruturas por microscopia de varredura por sonda
• A potencialidade da microscopia de varredura por sonda na pesquisa agropecuária.
• Soldagem por Atrito com Pino Não Consumível de Aços Inoxidáveis Duplex
• Estudo de nanoestruturas de nitreto de boro hexagonal por microscopia de varredura por sonda