Eletrodeposição de filmes finos de CdSe : estudos opticos "in-situ" e celulas fotoeletroquimicas
AUTOR(ES)
Neidenei Gomes Ferreira
DATA DE PUBLICAÇÃO
1986
RESUMO
Neste trabalho é estudado o fenômeno da refletância para um sistema de três fases eletrólito/filme/substrato, através de medidas realizadas "in-situ" durante a eletrodeposição de um filme semicondutor de CdSe sobre um substrato metálico. O tratamento teórico do fenômeno da refletância é feito a partir das equações de Fresnel. Da análise das curvas experimentais é possível determinar a taxa de crescimento e espessura óptica do filme em cada instante, a eficiência faradaica do processo e a dependência do índice de refração do filme com o comprimento de onda da luz incidente. Análises em Microscopia Eletrônica de Varredura permitem avaliar o fator de rugosidade do substrato e espessura microscópica do filme. Mostra-se também a aplicação deste filme semicondutor como camada fotossensível em células solares fotoeletroquimicas. A caracterização das células é feita por medidas de corrente de curto circuito, fotopotencial, eficiência de conversão sob iluminação policromática e eficiência quântica sob iluminação monocromática
ASSUNTO(S)
celulas eletroliticas filmes finos - propriedades oticas elipsometria fotoluminescencia
ACESSO AO ARTIGO
http://libdigi.unicamp.br/document/?code=vtls000047307Documentos Relacionados
- Caracterização de filmes policristalinos de CdSe atraves da espectroscopia de fotoluminescencia
- Preparation and characterization of polyaniline films by the "in-situ" deposition method.
- Caracterização da eletrodeposição de filmes finos de CdTe sobre Pt em meio ácido
- Analise numerica dimensional aplicada a combustão in-situ (CIS)
- Eletrodeposição de filmes finos de CdTe para aplicação em células solares fotovoltáicas.