Ein testerzeugungsverfahren fur digitale schaltungen auf der verhaltensebene

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DATA DE PUBLICAÇÃO

2009

RESUMO

Verhaltensmodelle sind für die Beschreibung digitaler Schaltungen besonders geeignet. Sie besitzen einen hohen Abstraktionsgrad, wodurch sich in Vergleich zu strukturellen Modellen die Anzahl der benötigten Elemente verkleinert, um eine Schaltung auf der Verhaltensebene zu beschreiben. In dieser Arbeit wird ein Testerzeugungsverfahren entwickelt, das auf der Verhaltensebene anwendbar ist. Damit soil ein Beitrag zur Beherrschung des zunehmenden Aufwands bei der Testerzeugung fur hochintegrierte Schaltungen geleistet werden. Ausgangspunkt far die Arbeit ist ein Verhaltensgraph, der sich aus einem Datengraphen und einem Ablaufgraphen zusammensetzt. Der Datengraph stellt den Datenfluß dar, wahrend der Ablaufgraph den Steuerfluß abbildet. Aus diesen Graphen werden Testwege abgeleitet, die es ermöglichen, parametrisierte Testmuster von den Eingangsanschlassen bis zum zu testenden Element weiterzuleiten und die Antwort dieses Elements bis zu den Ausgangsanschldssen fortzupflanzen. Durch die Anwendung von parametrisierten Testmustern wird erreicht, daß das Verfahren unabhängig von Fehlermodellen und Realisierungseinzelheiten wird. Die Aktivierung der Testwege wird anhand von Vorwärts- und Rückwärtsfortpflanzungen durchgeführt. Das vorgeschlagene Verfahren berücksichtigt sowohl die prozedurale (imperative) als auch die nichtprozedurale (applikative) Verhaltensbeschreibung einer Schaltung. Es wird an die Eigenschaften des jeweiligen Verhaltens angepaßt, außerdem werden die verschiedenen Sprachkonstrukte, die in den imperativen und applikativen Teilen der Beschreibung vorkommen können, durch entsprechende Verfahren einzeln berücksichtigt. Zur Beschreibung des Verhaltens wird in der vorliegenden Abhandlung die Sprache DSL (Digital Systems Specification Language) verwendet, was aber die Allgemeinheit der Anwendung des Verfahrens nicht einschränkt.

ASSUNTO(S)

eletronica sistemas digitais linguagens : descricao : hardware testes : sistemas digitais

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